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資料語言: | 簡體中文 |
資料類別: | PDF文檔 |
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更新時間: | 2014-07-27 23:18:25 |
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在高速串行數(shù)據(jù)技術(shù)的推動下,性能指標(biāo)日新月異
TDR高速串行互連測試和驗證
– TDR的原理和應(yīng)用
– TDR在信號完整性SI(Signal Integrity)中的應(yīng)用
泰克公司TDR測試解決方案
泰克串行數(shù)據(jù)鏈路測試解決方案
阻抗和信號完整性問題
計算機、通信系統(tǒng)、視頻系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)等領(lǐng)域的數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)人員正面臨著越來越快的時鐘頻率和數(shù)據(jù)速率,隨之,信號完整性變得越來越重要。在當(dāng)前的高工作速率下,影響信號上升時間、脈寬、時序、抖動或噪聲內(nèi)容的任何事物都會影響整個系統(tǒng)的性能和可靠性。為保證信號完整性,必須了解和控制信號經(jīng)過的傳輸環(huán)境的阻抗。阻抗不匹配和不連續(xù)會導(dǎo)致反射,增加系統(tǒng)噪聲和抖動,在整體上降低信號的質(zhì)量。
阻抗控制是當(dāng)前許多數(shù)字系統(tǒng)、元器件規(guī)范的一部分,如USB2.0,F(xiàn)irewire(IEEE 1394),PCI Express,Infiniband,Serial ATA,XAUI等規(guī)范。業(yè)內(nèi)已經(jīng)普遍使用仿真工具設(shè)計高速電路,仿真加快了設(shè)計周期,最大限度地減少了錯誤數(shù)量。但是仿真之后,必須進(jìn)行工程驗證來檢驗仿真設(shè)計,這其中就包括阻抗測量。
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