| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時間： | 2013-04-10 10:34:14 |
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測試夾具一直是封裝式晶體管噪聲參數測試的難點，本文詳細介紹了基于PCB板材如何設計測試夾具和TRL校準件，并且對制作的測試夾具和TRL校準件從時域和頻域作了全面的校驗。此外，本文還全面介紹了基于安捷倫公司高性能矢網PNA-X的全新的噪聲參數測試方案，這種方案設置更簡單，測試速度更快，精度更高。
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