網(wǎng)站首頁 > 資料查詢 > 白皮書/應用筆記 > 測試測量
資料語言: | 簡體中文 |
資料類別: | PDF文檔 |
瀏覽次數(shù): | 0 |
評論等級: | |
更新時間: | 2013-04-10 10:41:09 |
資料查詢: | 您可以通過企業(yè)官網(wǎng)、京東、出版社等官方渠道下載或購買。 |
最近幾年隨著多 Gbps 傳輸?shù)钠占埃瑪?shù)字通信標準的比特率也在迅速提升。例如,USB 3.0 的比特率達到 5 Gbps。比特率的提高使得在傳統(tǒng)數(shù)字系統(tǒng)中不曾見過的問題顯現(xiàn)了出來。諸如反射和損耗的問題會造成數(shù)字信號失真,導致出現(xiàn)誤碼。另外由于保證器件正確工作的可接受時間裕量不斷減少,信號路徑上的時序偏差問題變得非常重要。雜散電容所
產(chǎn)生的輻射電磁波和耦合會導致串擾,使器件工作出現(xiàn)錯誤。隨著電路越來越小、越來越緊密,這一問題也就越來越明顯。更糟糕的是,電源電壓的降低將會導致信噪比降低,使器件的工作更容易受到噪聲的影響。盡管這些問題增加了數(shù)字電路設計的難度,但是設計人員在縮短開發(fā)時間上受到的壓力絲毫沒有減輕。
產(chǎn)生的輻射電磁波和耦合會導致串擾,使器件工作出現(xiàn)錯誤。隨著電路越來越小、越來越緊密,這一問題也就越來越明顯。更糟糕的是,電源電壓的降低將會導致信噪比降低,使器件的工作更容易受到噪聲的影響。盡管這些問題增加了數(shù)字電路設計的難度,但是設計人員在縮短開發(fā)時間上受到的壓力絲毫沒有減輕。
溫馨提示:本站不提供資料文件下載,僅提供文件名稱查詢,如有疑問請聯(lián)系我們。