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數(shù)碼相機(jī)EMC定位測(cè)試輻射發(fā)射整改案例
| 資料語言： | 簡(jiǎn)體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時(shí)間： | 2015-08-27 19:17:05 |
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先和大家說說這款數(shù)碼相機(jī)的情況，此款數(shù)碼相機(jī)對(duì)外有一個(gè)USB 接口與電腦相連，產(chǎn)品為塑膠外殼，單板為雙面板，在與PC 通訊的情況下測(cè)試不能夠通過，那么在我們拿到樣品的時(shí)候，
進(jìn)行了一些措施準(zhǔn)備工作，然后去深圳附件的一家實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行定位測(cè)試。
一、 本次試驗(yàn)的目的
1、 使產(chǎn)品輻射超標(biāo)的樣品在深圳實(shí)驗(yàn)室能夠模擬出來；
2、 產(chǎn)品經(jīng)過整改后輻射發(fā)射按照標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試能夠通過EN55022 CLASS B的要求；
二、定位測(cè)試最終結(jié)果
通過這次對(duì)輻射發(fā)射的摸底定位測(cè)試，對(duì)于測(cè)試頻段30MHz-1GHz測(cè)試結(jié)果如下：
1． 經(jīng)過從電纜,單板接口和內(nèi)部進(jìn)行設(shè)計(jì)處理以后產(chǎn)品能夠滿足標(biāo)準(zhǔn)EN55022 CLASS B的要
求；
2． 從測(cè)試過程和定位過程來看，產(chǎn)品超標(biāo)主要由單板本身輻射過強(qiáng)和USB電纜設(shè)計(jì)不當(dāng)引
起。
三、定位測(cè)試詳細(xì)分析過程
1、測(cè)試對(duì)策：筆者剛剛拿到的原始機(jī)型,經(jīng)過觀察USB電纜采用單磁環(huán),產(chǎn)品和電纜沒有經(jīng)過任何
處理進(jìn)行, 146.40MHz測(cè)試超標(biāo)4.50dB；
結(jié)果分析：能夠重現(xiàn)超標(biāo)現(xiàn)象,說明兩邊的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試場(chǎng)地還是有一定的可比性；
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