主辦單位: | Keysight Technologies(是德科技) |
舉辦時間: | 2015年4月17日9:00 –17:00 |
舉辦地址: | 是德科技北京辦公室二層培訓教室2(北京市朝陽區望京北路3號) |
關注次數: | 0 |
報名網站: |
為進一步增進各行業工程師和Keysight Technologies(是德科技)公司的相互交流,幫助客戶解決更多測試測量上的疑惑,是德科技特別邀請來自公司總部的網絡分析儀產品部門首席科學家Joel Dunsmore訪問北京,在是德科技北京辦公室舉行網絡分析儀應用高級技術研討會。
演講嘉賓介紹:
Joel Dunsmore 1983年畢業于俄勒岡州立大學,獲得電子學碩士學位,同年加入惠普公司工作。Joel在2014年從利茲大學獲得了博士學位。在2008年他被任命為安捷倫科技研發部的首席科學家,并且在網絡分析儀部門工作。他是HP 8753系列網絡分析儀及Agilent PNA-X系列網絡分析儀的架構工程師,并且負責該系列產品的所有微波射頻電路的設計,這兩個系列的網絡分析儀產品已經成為業界的經典及里程碑。最近,他投身于非線性測試的研究,包括差分器件的測試及混頻器測試。至今他一共獲得了24項專利,并且發表了大量具有高影響力的測試論文。除了本職工作,他還在加州大學伯克利分校教授一些短期的射頻電路課程。
日程安排:
9:00-12:00
· 基于PNA-X的無源和有源器件的現代測量方法(同軸或在片器件在單次連接下的多種測量,包含S參數、增益壓縮、三階交調、噪聲系數等)
· PNA-X的混頻器群時延測試技術(著重討論窄帶寬、嵌入式本振和低信噪比狀態下進行高精度測試)
· 最新的網絡分析儀內嵌頻譜分析功能的講解及演示
12:00-13:00 午餐
13:00-17:00
· PNA-X矢量誤差修正的噪聲系數測量(精確測量0~60 dB的噪聲系數)
· 差分和IQ器件的測量(包含差分放大器的諧波測試以及差分和IQ混頻器的測試)
· 測試夾具問題的解決方案
時間地點、聯系方式:
時間:2015年4月17日9:00 –17:00
地點:是德科技北京辦公室二層培訓教室2
地址:北京市朝陽區望京北路3號
電話:010-64397424
Email:openlab.bj#keysight.com
活動報名方式:請直接聯系您的是德科技銷售工程師或與北京開放實驗室聯系,提前預約。