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會議簡介：
隨著5G，AI，云計算，元宇宙等新興技術(shù)的不斷發(fā)展，對以USB Type-C, PCIEG5/G6,50G/100G/200G Ethernet ACC/AEC/AOC等為代表的高速數(shù)字互連技術(shù)提出了更高的要求。以USB Type-C為例，USB-IF協(xié)會為了保證高達20Gbps/Lane的USB4 Gen3信號的可靠傳輸，推出了Get_iPar和IntePar一致性測試工具，編譯44組或30組S4P參數(shù)，得到ILfitatNq、IRL、IMR、COM等結(jié)果，用于高速互連測試結(jié)果Pass/Fail的判斷。
本研討會在全面、系統(tǒng)地介紹是德科技所有高速數(shù)字互連測試方案的基礎(chǔ)上，著重介紹業(yè)內(nèi)第一個全自動化的USB Type-C互連一致性測試方案，希望對大家的工作有所幫助。
您將通過本次研討會了解到：
1. 高速數(shù)字互連的市場現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢
2. 高速互連已有解決方案簡介
3. 基于PXI VNA 和PLTS的電纜組件多端口自動測試系統(tǒng)簡介
4. 全新的全自動化USB Type-C互連一致性測試方案介紹
5. USB Type-C互連一致性測試方案應用實例
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