“2018 IEEE國際暨亞太電磁兼容聯合會議及展覽會”于5月14日至5月17日在新加坡舉辦并獲得圓滿成功。通用測試（GTS）代表團參加了本次行業盛事并斬獲多項榮譽。

于偉博士獲得“IEEE 技術成就獎”

可用于4G及5G MIMO OTA測試的“輻射兩階段法”（Radiated Two-Stage，RTS方法）已正式被3GPP標準組織承認為測試標準。作為該國際標準的提出者，通用測試在RTS方法的研究中起主導作用并做出了巨大貢獻。IEEE協會向通用測試于偉博士頒發了“IEEE 技術成就獎”，該獎項表彰在計算機、信息科學、工程學或計算機技術領域創新性、及推動本領域技術進步的貢獻。

于偉博士

不僅如此，通用測試代表團還主持并參加了與5G天線測量相關的1場Workshop及3場Special session。

漆一宏博士主持workshop

會議上，中國大陸代表團共發表論文178篇，其中通用測試貢獻了7篇。

通用測試團隊

種種殊榮的獲得并不是偶然，它離不開通用測試自成立以來，始終專注技術研發，專注創新，專注為客戶創造價值。

隨著5G時代的來臨，通用測試更是憑借在測量理論、電磁環境、基礎部件與材料、測試算法、系統集成等方面綜合優勢，在毫米波、相控陣天線、大功率天線測量等領域和是德科技（Keysight）、谷歌（Google）、高通（Qualcomm）等世界一流公司和國內國防基地與航天研究院開展了廣泛合作。