R&S公司將參加于2009年2月26至27日在深圳會展中心、3月10日至11日在上海世貿商城舉辦的“2009年國際集成電路研討會暨展覽會”，并展示其針對集成電路的測試解決方案。
 
在基帶芯片和射頻芯片測量方面，R&S推出了用于數字I/Q信號轉換的硬件工具R&S® EX-IQ BOX，廣泛應用于不同數字I/Q標準的轉換，是連接矢量信號源（如R&S® SMU、SMJ、SMBV、AFQ、AMU），矢量信號分析儀（如R&S® FSQ、FSG、FSV）與待測的基帶或射頻芯片的樞紐。利用EX-IQ BOX，結合R&S的矢量信號源和矢量信號分析儀，可以解決射頻、基帶芯片測量過程中基帶模擬、衰落模擬、基帶和射頻信號分析中的諸多難題，具有廣闊的應用前景。

在測試ADC和FPGA時，可能同時需要高質量的射頻和時鐘信號，高性能的信號源R&S® SMA是一臺二合一的儀器，它不但能產生極低相噪的高質量射頻信號，還能產生高穩時鐘（頻率可高達1.5GHz）。因此可以用一臺儀器來實現射頻信號源＋時鐘信號源的功能。除此之外，R&S公司有各種信號源和頻譜儀可供選擇， R&S公司的頻譜分析儀具備創新性的測試和全面的標準測量功能，產品型號從手持式的R&S® FSH到高端的信號分析儀R&S® FSQ，再加上基帶分析儀R&S® FMU，組成了一個全系列的解決方案。

差分電路形式具有抗電磁干擾性能力強、工藝上易于實現的特點，廣泛應用于射頻微波的芯片/集成電路。以往測試這些器件通常采用傳統的“虛擬”差分方法：網絡分析儀用單端（single-ended）信號激勵被測件，測出其不平衡（unbalanced）參數，然后網絡分析儀通過數學計算，把不平衡參數轉換成平衡參數。但是這種“虛擬”差分方法由于沒有在采用真正的差分信號激勵被測件，其準確性不能保證。為了正確測量差分低噪聲放大器、混頻器、聲表濾波器等器件的特性參數，R&S創新了平衡器件測試概念，率先推出了“真”差分的矢量網絡分析儀技術R&S® ZVA－K6，該技術通過產生一對真實差分信號激勵待測件，可以測得器件在真實差分信號激勵條件下的完全S參數，同時還具備掃頻、掃功率的功能。整個測試過程具有在線自動化能力。

羅德與施瓦茨公司
總部位于慕尼黑的羅德與施瓦茨公司，是國際上著名的跨國公司，活躍于測試與測量，信息技術與無線通信領域，其子公司和代表處遍及世界70多個國家，公司依靠所擁有的廣泛的專有技術和員工旺盛的創新精神，在涉足的各個領域中都處于技術領先者的地位。
當前R&S活躍于下列領域：
    測試與測量
    移動無線電
    集群通信
    無線電通訊
    情報搜索
    頻譜監測
    天線
    信息技術安全