MD8430A發布支持千兆LTE選件（DL 5CA和UL 3CA IP數據通信，SCME^*3 Fading^*4）以及蜂窩物聯網選件（Cat-M1^*1, NB-IoT^*2）

安立公司（總裁橋本裕一）近日發布MD8430A信令測試儀LTE-Advanced Pro相關測試選件，其中包括：LTE DL 5CA選件、LTE UL 3CA選件、SCME Fading選件、eMTC和NB-IoT選件，具體內容如下：

-        LTE DL 5 Carrier Aggregation^*5 Option         MD8430A-089
-        LTE UL 3 Carrier Aggregation Option       MD8430A-045
-        SCME Fading Option         MD8430A-053
-        LTE Enhanced MTC Option       MD8430A-062
-        Narrow Band IoT Option MD8430A-063

MD8430A信令測試儀作為一款基站仿真器可支持LTE-Advanced Pro相關協議標準，并且為芯片和終端的開發搭載臺式模擬網絡。另外，配置模擬衰落環境用于支持LTE-A Pro數據傳輸速率測試。增加這些選件是為了LTE-A Pro 測試終端能夠在MD8430A上進行DL 5CA和UL 3CA IP數據傳輸測試、SCME衰落環境下的傳輸速率測試，以及Cat-M1和NB-IOT協議測試。安立公司會在MD8430A信令測試儀上進一步發展LTE-A新功能

開發背景

LTE-A Pro通過使用載波聚合擴大通信帶寬以及多天線技術，使移動終端在快速移動時可以達到1 Gbps 數據下載傳輸速率。另外，3GPP Release 13也定義了蜂窩物聯網的相關標準。

在移動通信中引進LTE-A Pro技術需要以下評估項目：

-        通過組合載波的測試環境提供更高的吞吐量
-        Cat-M1 和NB-IoT終端的協議測試
-        協議測試使用OTA無線信道建模方式評估LTE-A Pro終端在實際網絡的性能

安立公司在信令測試儀MDM8430A上增加了以上功能。

產品概述

MD8430A信令測試儀是一款基站模擬器，可支持3GPP LTE-A Pro相關標準。該功能可以支持LTE-A Pro終端進行DL 5CA和UL 3CA IP數據傳輸測試、SCME衰落環境下的傳輸速率測試，以及Cat-M1和NB-IOT協議測試。此外，如果輸出信號是在同一頻段，那么，儀表的一個射頻端口可以輸出多個同頻信號，這樣就可以通過增加載波的方式來減少MD8430A數量。

MD8430A衰落功能可在實驗室復現實際環境中的基帶衰落場景，此外，它還支持低時鐘測試方式用于芯片初級調試階段。并且該儀表搭配Rapid Test Designer (RTD) MX786201A測試工具，可提供圖形化的腳本編譯界面，可以創建MIMO測試環境、多種接入場景，以及各種在現網中難以實現的異常流程。最后，MD8430A內置基帶衰落模塊，可以在同樣的RTD接口上控制相關的基帶衰落功能。

技術術語

*1 Cat-M1 (也稱LTE-M)
物聯網設備類型，通過1.4 MHz有限帶寬、擴大傳輸間隔和節電模式來控制通訊速率實現設備低功率損耗。最大下行速率達1 Mbps。

*2 NB-IoT
類似于Cat-M1，物聯網標準使用極窄頻帶100 kHz支持低通信速度，約為100 kbps
 
*3 SCME
擴展OTA信道模型(SCM)，參考3GPP TS25.996協議。
 
*4 Fading
在無線通信中，由于地面障礙物以及電離層的干擾導致傳輸過程中信號幅度發生變化而產生的現象叫做衰落。
 
*5 Carrier Aggregation (CA)
通過組合載波方式增大傳輸帶寬，得以增大傳輸速率。5CA表示5個LTE載波聚合