新產品系列包括業界領先的射頻隔離電流探頭和三通道雙向電源
泰克公司今日宣布推出一系列突破性功率測量儀器,旨在助力對功率容量和效率有更高要求的行業,促進行業創新。全新 TICP 系列 IsoVu™ 隔離電流探頭是世界首款利用射頻隔離技術的產品,適用于測量低壓和高壓系統中快速變化的電流,測量高度準確,安全可靠。EA-PSB 20000 Triple 系列是一款具有能量回收功能的三通道雙向電源和電子負載產品,可在一臺設備上提供多個通道,從而提供更高的測試覆蓋率、密度和容量。
TICP 系列 IsoVu 射頻隔離電流探頭刷新行業定義
TICP IsoVu 探頭是業界開創性使用射頻隔離技術的隔離電流探頭,與市場上現有的探頭或替代分流測量技術相比,該款探頭可完整隔離測量系統和被測設備之間的電流,可在高壓應用中進行高帶寬、低噪聲電流測量。此款探頭的帶寬高達 1 GHz,對于從數微安到數千安寬電壓范圍內快速變化的電流,工程師利用該款探頭,通過示波器可在納秒內捕獲準確的測量值。
泰克全球中端及基礎示波器產品線總經理 Daryl Ellis 表示:“寬測量范圍意味著現在覆蓋了以前無法測量的高壓環境,從快速開關的 SiC 和 GaN 電源轉換器,到移動設備電池性能測試等低功耗應用,所有這些都只需一個探頭即可完成。隨著全球對電力創新的需求不斷加速,我們不斷樹立測量準確度、安全性和可擴展性方面的新標準,幫助從汽車到可再生能源等行業的客戶不斷突破極限。”
主要功能:
• 利用射頻技術實現完全電氣隔離,消除接地環路
• 共模抑制比 (CMRR) 是傳統差分電壓探頭的 30 倍以上:直流時,CMRR 為 140 dB,1 MHz 時,CMRR 高達 90 dB
• 超低噪聲。在 1X 配置中,輸入電流為 50 Ω 時達到極低噪聲,即小于4.7 nV / √Hz(1 GHz 時,小于 150 μV)
• 提供三種型號選擇,帶寬分別為 1 GHz (TICP100)、500 MHz (TICP050) 和 250 MHz (TICP025)
• 可使用 TekVPI™ 探頭接口與泰克 4、5 和 6 系列 MSO 示波器集成
EA-PSB 20000 Triple 電源是可編程電源的全面創新
EA-PSB 20000 Triple 是當前市場上極致緊湊的三通道雙向直流電源,能夠對復雜系統中的組件進行高密度并行測試。三個獨立通道均可提供高達 10 kW 的功率,支持高達 920 V 的電壓和高達 340 A 的電流。該系列允許客戶將多個測試設置集成于一體,從而降低成本,減少設備需求,并縮短測試時間。此款電源還具有自動量程功能,可自動調整電壓或電流范圍,在寬測量范圍內提供全功率,允許通過一個裝置處理各種電壓和電流組合。
主要功能:
• 具有三個獨立且完全隔離的雙向直流通道
• 用作直流電子負載進行能量回收,能量回收率高達 96%
• 支持的總功率高達 30 kW,覆蓋的電壓范圍從 0 - 60 V 增加至 0 - 920 V,各通道電流從 0-40 A 增加至 0-340 A
• 使用電氣隔離共享總線進行高級并行測試
• 提供高速 CAN-FD 通信接口
• 所需機架空間比單輸出設備減少 50%
EA 副總裁兼總經理 James Hitchcock 表示:“EA-PSB 20000 Triple 能夠以單一緊湊裝置提供更高的功率密度和測試容量,是每個工程師必不可少的工具,能夠幫助工程師快速滿足多種測試需求,加速汽車和可再生能源等快速發展行業的創新。在未來幾年內,該產品能夠以更高的效率為客戶提供更大功率。”
助力電力革命
近幾年,為應對寬禁帶半導體(SiC,GaN)在面臨大共模電壓時準確解析高帶寬、高電壓差分信號的挑戰,泰克開創性推出了采用光學隔離技術的TIVP IsoVu探頭。此次創新的TICP IsoVu 探頭和EA-PSB 20000 Triple電源的發布,標志著泰克在持續推進電力創新領域邁出了堅實的一步。泰克致力于提供工程師所需的先進測試測量工具,助力他們在復雜的電氣環境中實現技術突破。
這些產品共同體現了泰克的一個承諾以及對滿足客戶需求和推動行業發展的不懈追求,即推動電力創新,為工程師提供所需工具,幫助他們推動復雜電氣環境的發展。通過在 2024 年 1 月收購 EA Elektro-Automatik,泰克進一步增強了其產品陣容,鞏固了其作為高功率測試解決方案領域領導者的地位。
TICP IsoVu 探頭現可接受訂購,擬定于本月即 2024 年 11 月開始發貨。EA-PSB 20000 Triple 輸出電源今日開始接受預訂,擬于 2025 年 1 月開始發貨。 欲了解更多信息,請查看如下相關鏈接:https://www.tek.com.cn/products/oscilloscopes/oscilloscope-probes/isovu-isolated-current-probes