為了推動射頻微波測試與測量技術的發展,適應客戶的測試應用需求變化,使優秀的測試測量產品充分結合并服務于用戶的實際使用,R&S公司特舉辦2009年射頻微波測量儀器應用有獎征文競賽,旨在為廣大行業用戶搭建一個溝通與交流的平臺,分享和傳播知識經驗。
本次征文面向中國大陸從事電子測量及相關行業從業人員。但是不包括R&S員工及其親屬,也不包括R&S的供應商和渠道伙伴。征文時間從2009年1 月 12 日至2009年5月31日,2009年 6月底公布評選結果。頒獎儀式具體時間及地點另行通知。
本次征文范圍廣泛,用戶可結合R&S射頻微波儀器的實際應用情況,在各個領域,例如但不限于電子設計應用、信號產生以及偵測和分析、器件和材料的測量、儀器計量技術、基于儀器遠程控制的軟件開發等撰寫案例。征文可涉及的R&S射頻微波儀器主要有:函數/任意波形發生器、信號源、衰落模擬器、頻譜分析儀、信號分析儀、相位噪聲分析儀、噪聲系數分析儀、測量接收機、矢量網絡分析儀、功率計等。
R&S公司將邀請行業專家共同參與稿件評選,獲獎者將得到獲獎證書以及獎品。同時,獲獎稿件將擇優在專業期刊上刊發。
本次征文獎項為:一等獎 1 名;獎勵價值6000元的獎品二等獎 3 名;獎勵價值4000元的獎品 三等獎若干名:獎勵價值1000元的獎品。
本次活動不收取參賽者任何費用。如果您對本次有獎征文活動有任何問題,請聯系800-810-8228,或者E-mail: VAS.China@rohde-schwarz.com。征文及投稿要求詳見R&S公司中文網站www.rohde-schwarz.com.cn
更多信息請訪問http://www.rohde-schwarz.com.cn/index.php?id=444。
本次征文面向中國大陸從事電子測量及相關行業從業人員。但是不包括R&S員工及其親屬,也不包括R&S的供應商和渠道伙伴。征文時間從2009年1 月 12 日至2009年5月31日,2009年 6月底公布評選結果。頒獎儀式具體時間及地點另行通知。
本次征文范圍廣泛,用戶可結合R&S射頻微波儀器的實際應用情況,在各個領域,例如但不限于電子設計應用、信號產生以及偵測和分析、器件和材料的測量、儀器計量技術、基于儀器遠程控制的軟件開發等撰寫案例。征文可涉及的R&S射頻微波儀器主要有:函數/任意波形發生器、信號源、衰落模擬器、頻譜分析儀、信號分析儀、相位噪聲分析儀、噪聲系數分析儀、測量接收機、矢量網絡分析儀、功率計等。
R&S公司將邀請行業專家共同參與稿件評選,獲獎者將得到獲獎證書以及獎品。同時,獲獎稿件將擇優在專業期刊上刊發。
本次征文獎項為:一等獎 1 名;獎勵價值6000元的獎品二等獎 3 名;獎勵價值4000元的獎品 三等獎若干名:獎勵價值1000元的獎品。
本次活動不收取參賽者任何費用。如果您對本次有獎征文活動有任何問題,請聯系800-810-8228,或者E-mail: VAS.China@rohde-schwarz.com。征文及投稿要求詳見R&S公司中文網站www.rohde-schwarz.com.cn
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