《射頻微波芯片設(shè)計(jì)》專欄適用于具備一定微波基礎(chǔ)知識(shí)的高校學(xué)生、在職射頻工程師、高校研究所研究人員,通過本系列文章掌握射頻到毫米波的芯片設(shè)計(jì)流程,設(shè)計(jì)方法,設(shè)計(jì)要點(diǎn)以及最新的射頻/毫米波前端芯片工程實(shí)現(xiàn)技術(shù)。
噪聲的表達(dá)
說到噪聲,大家應(yīng)該還是比較熟悉的,這或許是我們射頻模擬電路工程師又一個(gè)不可繞開的話題。當(dāng)然談到模擬電路,一般來說我們會(huì)說模擬電路有四大塊組成:基帶、射頻、傳感器、電源,其中除了電源外基本上都會(huì)重點(diǎn)去討論信號(hào)與噪聲的概念,因此對(duì)噪聲的分析顯得格外重要。而電路里面的噪聲又極為復(fù)雜多樣,就算到了后摩爾時(shí)代的今天,有些基本的噪聲理論都還沒有完全搞清楚,還是老規(guī)矩,本文旨在拋磚引玉,簡(jiǎn)單聊下射頻電路中的噪聲,歡迎大家討論交流,共同進(jìn)步。
噪聲系數(shù)主要是衡量噪聲大小的一個(gè)指標(biāo),當(dāng)我們對(duì)電路里具體產(chǎn)生的噪聲來源不清楚時(shí),可以按照黑盒子定義法,把其直接定義為輸入信噪比與輸出信噪比的比值:
為了在實(shí)際工程中表示方便,我們通常采用dB值來表示噪聲,即對(duì)上面的噪聲F取一個(gè)對(duì)數(shù)
噪聲的來源
可能看完上面的表述,較真的朋友們就會(huì)犯嘀咕了,既然模電里面除了電源外基本上都會(huì)重點(diǎn)去討論噪聲,那么我們可不可以,能不能夠簡(jiǎn)單討論下電路的具體噪聲來源?????
本文簡(jiǎn)單地歸類下電路里面的主要的噪聲來源,如下圖所示:
本征噪聲是電路本身帶來的噪聲,主要由晶體管(場(chǎng)效應(yīng)管)和電阻帶來,而外部噪聲主要是供電,參考,襯底干擾和串?dāng)_(模塊間串?dāng)_,外部耦合等)。當(dāng)我們?cè)谠O(shè)計(jì)射頻低噪聲放大器時(shí),主要考慮的是本征噪聲帶來的影響;而在設(shè)計(jì)低相位噪聲放大器時(shí),除了本征噪聲,更為重要的是需要考慮外部噪聲給放大器帶來的相位噪聲的惡化。
針對(duì)上述噪聲來源,電阻主要是熱噪聲,我們簡(jiǎn)單討論下其基本概念:
熱噪聲,這個(gè)概念大家應(yīng)該比較好理解,畢竟咱們可以望文生義,一個(gè)“熱”字就代表了其噪聲的產(chǎn)生機(jī)理。那么到底是誰熱?怎么熱的?到底有多熱?熱和噪聲到底有什么不可告人的秘密?
下面來簡(jiǎn)單探討下下。首先來說說,到底是誰“熱”的問題。簡(jiǎn)單地來說是電子比較“熱”,我們知道在對(duì)放大器上電后,晶體管或者場(chǎng)效應(yīng)管的偏壓結(jié)內(nèi)部的載流子會(huì)按照我們所加的電壓,朝著指定的方向運(yùn)動(dòng),然而現(xiàn)實(shí)是打臉的,因?yàn)槲覀兊碾娮右簧鷲圩杂?,雖然被外部邪惡的電壓勢(shì)力給指定了方向,但是一旦時(shí)機(jī)成熟,外部溫度變化,我們的電子大兄弟就愛朝著非規(guī)定方向Run起來,因此,此時(shí)受溫度影響朝著非規(guī)定方向Run起來的電子就是我們的熱噪聲的主角。下圖簡(jiǎn)單示意了下電子是怎么“熱”起來的:
好了,回答完了在電路里面的熱噪聲,誰熱,怎么熱的問題,下面簡(jiǎn)單回答下有多熱以及熱和噪聲的關(guān)系。
說到定量研究,我們一般比較科學(xué)的方法便是先去把熱噪聲給測(cè)試出來,然后根據(jù)相關(guān)值去具體表達(dá)熱噪聲,然后再去反復(fù)驗(yàn)證,最后得出結(jié)論。研究中,我們一般會(huì)采用等效法,根據(jù)下圖所示的基本原理,我們首先把LNA(當(dāng)然其他有源電路也是一樣的)等效為一個(gè)熱噪聲源,那么表示熱噪聲便是測(cè)量其產(chǎn)生噪聲的器件的平均噪聲功率。我們可以采用下圖中的電路結(jié)構(gòu)去完成測(cè)試,通過改變負(fù)載電阻R的值,使得測(cè)到的噪聲功率最大。根據(jù)最大功率傳的原理,我們可以得到等效的熱電阻。
為了朋友們不打瞌睡,我們直接忽略中間的推導(dǎo)過程,這里給出結(jié)論,常見的電阻熱噪聲公式為:
即熱噪聲的電壓均方值與溫度,電阻值,帶寬成正比(需要注意的是,這里與帶寬成正比并不是說熱噪聲的形成與頻率有關(guān),這里只是一個(gè)對(duì)頻率積分求功率譜密度的過程,實(shí)際上的熱噪聲是電子雜亂運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致的,和頻率無關(guān))。上述是在頻域中測(cè)得的功率譜密度去定義熱噪聲,后續(xù)我們還會(huì)討論在時(shí)域怎么去定義噪聲。
散粒噪聲(shot noise),也可以叫做散彈噪聲,這個(gè)噪聲怎么理解呢?追根溯源我們發(fā)現(xiàn),其原因是在電子傳播的時(shí)候具有離散性。這好比我們規(guī)定的傳播方向上有用的電子按照既定路線行軍,但有一小波電子由于離散性(符合泊松分布),雖然是按照外部電勢(shì)朝向運(yùn)動(dòng),但是還是開了一個(gè)小差,最終沒有到達(dá)我們想要的位置上,是不是有點(diǎn)類似兩個(gè)小年輕友達(dá)以上,戀人未滿的感覺。為了嘗試形象地解釋下,我們看下圖說話:
根據(jù)散粒噪聲產(chǎn)生的兩個(gè)必備條件,我們可以這樣一個(gè)結(jié)論:?jiǎn)渭兊碾娮铔]有散粒噪聲,或者,場(chǎng)效應(yīng)管的柵極到溝道沒有散粒噪聲,大家應(yīng)該沒有什么意見吧。當(dāng)然有意見的朋友們,也可以加小編好友他會(huì)拉你去群里去聊聊天,喝喝茶。同樣的道理,我們又一次省去讓人打瞌睡的推導(dǎo)過程,這里直接給出散粒噪聲的數(shù)學(xué)表達(dá)式:
其中IDC就是我們剛剛提到的散粒噪聲先決條件之一的直流電流,引入電荷q到表達(dá)式,主要也是因?yàn)殡姾傻念w粒性或者說離散性貢獻(xiàn)了相應(yīng)的噪聲。
閃爍噪聲,從數(shù)學(xué)層面上來說其是一種非平穩(wěn)隨機(jī)過程,其功率譜密度函數(shù)在頻率低端(f接近于零頻)發(fā)散,理論上在低頻端的噪聲譜密度可以到無窮大。從物理層面上來說,我們也把閃爍噪聲叫做1/f噪聲,沒錯(cuò),它就是大名鼎鼎的1/f噪聲,那么它是怎么形成的呢?據(jù)筆者了解到的,目前還沒有哪位大咖能給出一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的答案,大多都是模糊地說是由器件本身決定的,其特征在于噪聲功率頻譜密度與頻率f成反比,當(dāng)然在拉扎維大師的《RF Microelectronics》一書中給出了MOS管的1/f噪聲經(jīng)驗(yàn)公式:
其中K是與制造工藝相關(guān)的參數(shù),其大多為經(jīng)驗(yàn)值,是根據(jù)每個(gè)工藝不同會(huì)有不同的取值,同時(shí)拉扎維老師還指出,同一個(gè)工藝條件下PMOS的K值一般是小于NMOS的,這也是之前我們博客中聊到的用PMOS做負(fù)載減小1/f噪聲的原因。隨著時(shí)代的進(jìn)步,大家對(duì)1/f噪聲的產(chǎn)生機(jī)理研究得越來越深入,以MOSFET管子為例,業(yè)界比較認(rèn)可的1/f噪聲主要是由柵極載波數(shù)波動(dòng)(carrier number fluctuations ,CNFs)導(dǎo)致的。CNFs噪聲是由于載波交換引起的近界面柵介質(zhì)陷阱,柵極電介質(zhì)中的電荷波動(dòng)可能也會(huì)引起載流子遷移率的波動(dòng),上升到所謂的相關(guān)遷移率波動(dòng)(CMF),進(jìn)而引入了1/f噪聲。當(dāng)然,筆者目前還是沒太整明白,也期待大家伙兒去研究研究,爭(zhēng)取早日搞清楚這個(gè)底層機(jī)理,這樣我們?cè)O(shè)計(jì)電路的時(shí)候也可以根據(jù)噪聲產(chǎn)生的源頭,由底層機(jī)理去減弱1/f噪聲的影響,而不是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)和觀察到的現(xiàn)象去減小1/f噪聲。
不過可能有朋友又會(huì)問,這個(gè)1/f噪聲不是在低頻比較明顯嗎,那對(duì)我們做射頻的,又何患之有???
其實(shí)這個(gè)我們?cè)谥暗牟┪闹幸擦牡搅肆阒蓄l接收機(jī)中的1/f噪聲對(duì)系統(tǒng)的影響,除此之外,在部分射頻電路中也會(huì)有1/f噪聲折疊到高頻的隱患,因此大家伙還是要多多留意1/f噪聲,盡可能地減小其對(duì)電路的影響。
爆米花噪聲,我們也把此類噪聲叫做爆發(fā)性噪聲(burst noise)。該噪聲在摻金的雙極型晶體管中被發(fā)現(xiàn)有很高的強(qiáng)度,因而被認(rèn)為與金屬離子有關(guān)。不過與1/f噪聲一樣,我們對(duì)其產(chǎn)生的物理機(jī)理還并不是特別清楚,歸納下學(xué)者的研究,大家比較認(rèn)可的一個(gè)原因是:由金屬離子兩個(gè)或兩個(gè)以上(以兩個(gè)為主)的離散態(tài)之間隨機(jī)地切換導(dǎo)致的,當(dāng)這類狀態(tài)其切換時(shí)其頻率在音頻范圍內(nèi),并會(huì)伴隨boom,boom類似爆米花的聲音,因此我們把這個(gè)噪聲叫做了爆米花噪聲。
上面的公式給出了,爆米花噪聲的經(jīng)驗(yàn)公式,其中K主要是由工藝和偏置決定的,而fc是拐角(corner)頻率,當(dāng)所在頻率低于fc時(shí),爆米花噪聲功率譜密度變得平緩,也就是與頻率相關(guān)性降低(甚至可以說是此時(shí)與頻率無關(guān))。
外部噪聲,在上文我們也提到了,外部噪聲主要有電源、偏置、參考信號(hào)、襯底耦合以及串?dāng)_信號(hào)等等,這類噪聲通常也會(huì)被引入到電路之中,我們?cè)O(shè)計(jì)的時(shí)候需要相應(yīng)地去考慮對(duì)策,比如偏置電路提高Q值,比如襯底加隔離墻等等。
噪聲的大小求解
當(dāng)我們整體衡量電路的噪聲大小時(shí),可以通過時(shí)域去分析也可以通過頻域。從時(shí)域上來看,可以通過概率密度函數(shù)來表示噪聲功率譜密度,一般而言,噪聲符合正態(tài)分布,當(dāng)然也有例外,比如上文說到散彈噪聲(shot noise)符合泊松分布。
一般我們會(huì)對(duì),信號(hào)V在時(shí)域上面采樣分析,先把信號(hào)本身在采樣點(diǎn)內(nèi)的均值 求出來,然后再求其均方差,均方差δ基本上就可以反應(yīng)我們的噪聲啦(僅考慮噪聲對(duì)信號(hào)的影響),求其信號(hào)均值的公式如下:
根據(jù)上面的n次采樣后求得的信號(hào)均值,然后我們可以求得信號(hào)的均方根(Root mean square,RMS)誤差,此時(shí)不考慮諧波分量對(duì)信號(hào)功率譜密度的影響時(shí),通常均方根誤差便可以表示我們的噪聲。一般99%以上的信號(hào)與噪聲都分布在信號(hào)均值±3δ以內(nèi):
當(dāng)然,除了通過時(shí)域求解電路里面的噪聲,還可以通過頻域噪聲功率譜密度(這也是我們仿真工具,如ADS,AWR,Cadence中常用的仿真噪聲-頻率的求解方法)求解噪聲。如下圖(a)所示,我們對(duì)所求頻率10KHz處1Hz帶寬的信號(hào)進(jìn)行采樣(中心頻率10KHz,帶通濾波器帶寬1Hz),通過功率計(jì)得到信號(hào)的功率,同理可以逐點(diǎn)推廣到整個(gè)頻段,如圖(b)所示。
圖片來源:拉扎維《RF Microelectronics》第二章
根據(jù)上圖(b),Sx(f)函數(shù)便是功率譜密度,根據(jù)這個(gè)功率譜密度函數(shù)我們積分就可以得到功率的均方根誤差,也就是我們的噪聲。
好了,我們這里就討論完了噪聲大小的計(jì)算方法,接下來我們?cè)賮碛懻撘粋€(gè)有意思的話題——噪聲疊加。恰好有機(jī)會(huì)看到RFASK上面有篇博文分享了《淺析多通道接收單元噪聲系數(shù)的測(cè)試》,這是一個(gè)比較有討論價(jià)值的話題,這里也要特別感謝RFASK提供了一個(gè)百家爭(zhēng)鳴&分享交流的平臺(tái),本文就狗尾續(xù)貂,接著來簡(jiǎn)單談?wù)撓略肼暞B加的問題。
為了討論簡(jiǎn)單化,本文就先假設(shè)有兩個(gè)(兩路)噪聲疊加,令討論的噪聲電壓分別為n1(t)與n2(t),針對(duì)單位電阻的平均噪聲功率計(jì)算公式,我們可以求得兩個(gè)噪聲疊加后的平均噪聲功率:
根據(jù)上面的公式,我們可以得到這樣一個(gè)結(jié)論:當(dāng)兩個(gè)噪聲系數(shù)不相關(guān)時(shí),疊加的噪聲總噪聲功率可以直接把兩個(gè)噪聲功率直接相加,即上圖綠色框框內(nèi)的積分為0,即Pav=Pav1+pav2,也就是此時(shí)兩路疊加的噪聲比原來未疊加的單路噪聲高了3dB;但是當(dāng)兩個(gè)噪聲相關(guān)時(shí),疊加的總噪聲不再是兩個(gè)噪聲功率直接相加,還要考慮乘積項(xiàng)的積分項(xiàng),我們假定兩路噪聲全相關(guān),即令n1(t)=n2(t),此時(shí)Pav=4*Pav1=4*Pav2,也就是此時(shí)兩路疊加的噪聲比原來未疊加的單路噪聲高了6dB。那么四路或者多路噪聲疊加的問題,大家可以自行下來推導(dǎo)。在實(shí)際電路中怎么去判斷噪聲是否相關(guān),大家還得根據(jù)我們上文分析的噪聲的來源去考慮。
本期關(guān)于噪聲的討論就到這里,感謝你耐心看到此處。
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作者:RFIC_拋磚?