集成電路表征和分析程序(IC-CAP)

集成電路表征和分析程序(IC-CAP)是一種最先進的可定制建模軟件，并包括測量、仿真、優化和統計分析工具。ICCAP能夠提取高速/數字、模擬和功率射頻應用軟件中所使用的精確而緊湊的模型。當前，大多數領先的半導體制造商和集成器件制造商(IDM)都是采用IC-CAP對芯片CMOS、Bipolar、混合砷化鎵(GaAs)、氮化鎵(GaN)以及其他器件技術進行建模。

半導體制造商面臨的挑戰

隨著半導體技術日益發展，如何不斷提高產品性能和良率，以及如何縮短產品上市時間成為半導體制造商面臨的最大挑戰。隨之產生的針對器件建模的要求也日益提高。

首先隨著器件尺寸不斷縮小，精準的器件建模以及對制程的工藝波動的監測和控制變得尤為重要，這對器件測量的效率和精度提出更高的要求。往往基于建?；蛘吖に嚤O測的PCM(Process Control Monitor)測量需要耗費幾小時甚至幾天的時間，如何在不損耗測量精度的前提下更有效率的自動測量成為器件建模的首要問題。

同時對于應用在射頻領域的器件來說，器件的建模早已超越單純的DC建模流程，精準的RF建模成為器件全方位特性描述的必要環節。
 
此外由于工藝的多樣性，單一固定的模型提取流程往往很難滿足對模型提取效率和精度的雙重要求。因此如何方便靈活的編寫基于特定工藝的器件提取流程也成為建模的關鍵需求。
 
IC-CAP主要優勢
IC-CAP開放靈活的軟件框架

—— 不僅支持強大的PEL 編程提取語言，而且最新支持廣泛使用的Python語言，是業內唯一允許用戶方便靈 活的創建自己的模型提取流程及編寫全自動測量計劃的平臺

——IC-CAP 圖形界面工作室(GUI Studio)可以支持用戶自由創建自定義用戶圖形界面。與PEL 語言結合用戶完全可以自己創建一鍵式的自定義建模平臺
——SQL數據庫鏈接提供與MySQL和SQLite數據庫的鏈接，可以查詢或將WaferPro的測量數據導入IC-CAP以完成建模

最先進的半導體自動測試解決方案WaferPro

—— 在多個溫度變化范圍內進行全自動單晶圓和多晶圓測量
—— 為最常見的探針臺、開關矩陣和熱控夾具提供驅動程序
—— 包括許多預定義的實例測試方案，可以快速、輕松、高效地開始測試
—— 無需操作人員監管，晶圓可隨溫度變化自動進行調整；無需中斷測試，即可實時查看測量結果、狀態、數據和圖表
—— 在執行過程中監測位置、狀態、結果和數據；通過電子郵件接收更新
—— 按照用戶定義的合格/不合格標準，完美地進行異常處理
—— 先進的體系結構支持有效的數據組織以及快速的數據分析和處理
—— 優越的廣度和兼容性：測試方案可以在各種測試平臺中無縫運行；支持廣泛的DC/CV和RF測量；能夠測量任何n端接器件(MOS、二極管、無源器件等)；能夠以多種文件格式(.mdm 和.csv)保存
—— 具有模擬測試模式(模擬測量而不是真實測量)和后期處理模式，以提高測試和開發的靈活性
—— 擁有強大的調試模式，以進一步支持定制和測試

強大的數據處理與分析功能DataPro

—— 完全集成于建模流程
選擇典型、邊緣die 或對建模數據進行統計分析。集成于從多點或掃描測量到建模的整個流程。
—— 節省時間并最大限度地減少錯誤
無需向Excel 等其他工具中導出數據。使用IC-CAP 文件數據和IC-CAP SQL 數據庫。
—— 高靈活性
內置自動數據評估和分類算法。針對多點或掃描數據，根據多種條件進行數據選擇，支持用戶定義條件加權，可選擇多種誤差描述公式。
—— 易于使用
自動查找并去除異常，自動計算統計分布邊緣數據并查找出相應的die。
—— 精確
支持全曲線數據分析，與點數據分析相比，曲線數據分析可以提供更精確的統計分布信息。
 
強大的工具包
IC-CAP一鍵式模型提取工具包

所有模型提取工具包都包括完整的DC/CV/RF測量、提取和模型驗證流程，用戶可以真正實現一鍵式完成所有器件特性的建模流程。

NeuroFET模型工具包

Keysight NeuroFET模型使用人工神經網絡(ANN)來描述測量狀態。允許用戶執行所有有助于模型提取的直流測量和S參數測量。專用的采集程序可避免大功率條件下測量過程中發生的器件特性退化。

Angelov GaN模型工具包

Angelov GaN模型基于Angelov模型，并且針對GaN特性進行特別優化。是德科技Angelov GaN模型工具包是業界唯一的Angelov GaN建模解決方案，內置完整的器件測量模塊和模型提取模塊。

DynaFET模型工具包

DynaFET是Keysight專有非線性模型，基于人工神經元網絡技術(ANNs)適用于射頻功率放大器應用中的GaN/GaAs建模。


 
如此強大的IC-CAP將與您攜手并肩，共同迎戰半導體制造中的挑戰！
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