下面簡單介紹一下Conducted spurious emissions when transmitting(處于發射狀態的傳導雜散)的測試。
測試意圖:在EUT工作的狀態下,通過EUT上的天線連接器使用傳導方式連接到測試系統上,檢測EUT處于發射時的雜散信號。
測試搭建簡圖:
測試方法:
1) 用射頻線按上圖進行功分器(POWER SPLITTER)的連接,并使用信號源和頻譜儀(Spectrum Analyzer)測量5515C到EUT和EUT到頻譜儀這兩條路徑的損耗,然后記錄損耗值。
2) 測量完損耗后按照簡圖將EUT與E5515C、頻譜儀連接到功分器,把功分器衰減較大的一端接到頻譜儀上。
3) 在E5515C上調整信道號和路徑損耗的補償,然后按照下列表格中的參數設置E5515C。
4) EUT與E5515C之間建立呼叫連接,然后將E5515C參數調到all up bits的功率控制模式,使EUT以最大功率輸出。
5) 在頻譜儀上設置好路徑損耗的補償,然后按照以下表格根據頻率分段測試傳導雜散,所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標準規定的限值,并記錄測得的數據。
6) 然后按照以下表格重新設置E5515C的參數。
7) EUT與E5515C重新建立呼叫連接,把E5515C參數設置為0和1交替的功率控制模式。
8) 按照以下表格重新設置頻譜儀,根據頻率分段測試傳導雜散,所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標準規定的限值,并記錄測得的數據。
以上是對CDMA終端傳導雜散測試的簡單介紹, 此后我們將分批分期的對其它涉及CDMA部分的射頻測試進行一一闡述, 敬請關注。
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