整個電子行業對速度及性能的不懈追求正不斷改變高端示波器的標準。雖然當評估示波器時，帶寬曾經是客戶和銷售商關注的“關鍵指標”，然而捕獲和分析當今最快串行和光信號所需要的精確度（即：測量精確度和信號完整性）已經成為當前最重要的因素。

然而，什么是測量精確度？

帶寬是一種用于比較一臺儀器和另一臺儀器差別的簡單方式 ——具有最高帶寬的那臺一定是最好的，對嗎？可以肯定的是，帶寬是很重要的，對于高速應用而言，高帶寬是必需的。然而，示波器的真正目的是要盡可能準確地顯示感興趣的信號，而且背后更為復雜，涉及儀器的基本設計、探頭架構和連接配件、以及帶寬之外的參數（包括上升時間、采樣率和抖動本底噪聲）。

當選擇示波器時，工程師應評估的關鍵參數概述如下表所示：

市場驅動因素—— 需要更佳信號完整性

高速信號很容易產生信號完整性問題，因為它們涉及快沿和極窄的單位間隔或位次（bit times）。隨著通信鏈路數據速率的增加，將增加兩件事的發生：用戶界面縮小，信號上升時間減少。例如，通過將 5 Gb / s 脈沖與 8 Gb / s 脈沖進行比較得出，位寬從 200 ps 降為 125 ps。這使得一項設計的裕量減小了 38％。此外，這也使得接收機的工作更加困難，因為它試圖以更小的裕量，用非常快的數據速率將 1 與 0（零） 進行區分。同時，上升時間也從約 30ps 減少為剛好超過28 ps。8 GB / s 信號展示如下：

使問題復雜化的事實是，當被傳輸信號進入接收機時，可能產生多個信號完整性問題。這些信號完整性問題可能包括當此信號流經電路板或從硅芯片進入封裝引腳再進入電路板時產生的信號衰減。通道內的信號衰減是一個非常嚴重的問題，必須加以解決。PCB 材料（如：FR – 4）內的信號損失量隨線路長度的增加及數據速率的提高而增加。因信號幅度的縮小，噪音和反射正成為一個更大的影響因素?？蛻粜枰诮邮諜C中采用去嵌入策略，以打開閉合的眼圖。

隨著第三代串行數據標準的出現，8-10 Gb / s正逐漸成為行業標準。在光通信市場中，因以太網（Ethernet）發展到 4 × 25G（100GbE），設計人員需要能夠使用高達 32 Gb / s 的比特率對信號進行測試。同時，高速 FPGA 和寬帶射頻也推動了極限值的擴大。泰克公司的 DPO/DSA73304D 為這些高端應用程序提供業界最精準的測量性能。

技術平臺與突破

泰克公司為了提供業界領先的 DPO/DSA73304D 示波器性能，采用了 IBM 8HP 鍺化硅技術。這是一種 130 納米鍺化硅雙極互補金屬氧化物半導體（BiCMOS）工藝，利用 200 GHz 的 FT  轉換速度提供了 2 倍于上代產品的性能。

鍺化硅（SiGe）技術利用可靠性高且成熟的制造工藝，提供能與特殊材料（如：磷化銦（InP）和砷化鎵（GaAs））性能媲美的性能級別。與其它方案不同的是，鍺硅BiCMOS工藝提供了在一塊芯片上同時制備高速雙極性晶體管和標準CMOS的途徑，從而使一系列同時具備高集成度和極致性能的電路成為可能。正是這二者的結合，使泰克公司能夠在長達十多年的時間內持續且可靠地提供功能豐富的高速數據采集系統。

圖 1

 圖 1 所示的組件是采用了鍺化硅 BiCMOS工藝的 70000D 示波器的新式前端，該前端為 33GHz、100 GS / s。該芯片包含 2 個通道（2 塊小芯片）的前置放大器及一個 100 GS / s 的跟蹤/保持集成電路（IC）（large die）。泰克公司通過將前置放大器和采樣/保持功能集成于單一封裝中，提高通道間的匹配能力，減少由其他示波器中使用的獨立采樣/保持電路和 ADC 器件引起的交叉失真。一般情況下，減少所需的組件和接口數量可減少噪音和計時的不確定性，從而提高了 ENOB 性能。

我們為此種前端設計提供的另一項創新是大偏移范圍和終端性能。通過前置放大器芯片上的分離路徑輸入結構和多芯片模塊上的 AC -接地端接電阻器，從而實現了此種性能。該性能可以更加輕松地對大型直流偏置或直流偏置終端信號做出準確的測量。

由于實現了向8HP的轉換，DPO/DSA73304D示波器可以提供卓越的信號采集性能和分析能力。它幫助設計人員利用全部四通道前所未有的捕獲功能夠捕捉實時信號，并且利用業界最高的波形捕獲能力捕獲更多信號細節。利用一套工具集（為提供更快的設計和一致性測試而設計）實現設置、高速串行數據設計的捕獲及分析的自動化。主要性能包括：

· 雙通道高達 33 GHz 和 100 GS / s，所有四通道 > 20 GHz 和 50 GS / s

· 小于9 ps的上升時間（通常為 20/80）

· 低于 0.56％ 的垂直噪聲，≥5.5 的有效位數

· 30 多個可定制特殊應用軟件分析包

示波器性能因素

由于示波器是設計方面（尤其是信號完整性方面）至關重要的工具，設計人員應熟悉示波器指標以及它們影響測量的方式。讓我們觀察一下最重要的三大因素 - 上升時間、采樣率和帶寬 – 從而對它們進行更深入的了解。

此示波器的上升時間越快，測量到的上升時間會越準確。但是，當示波器的帶寬或上升時間和信號的上升時間彼此更接近時，會怎樣呢？ 有人曾用經驗法則（如：0.35/上升時間）來計算所需的示波器帶寬，但這種經驗法則只適用于某些示波器的前端設計，并且通常不適用于為高速串行數據速率和伴隨的快速上升時間而優化過的當今前端設計。

應當注意的是，具有相同帶寬性能的兩臺示波器可以具有完全不同的上升時間、振幅和相位響應。所以，僅了解示波器的帶寬無法可靠地揭示出其測量性能。此外，通過計算確定的上升時間可能也不準確。了解示波器上升和下降時間響應的最可靠方法是使用一個理想的階躍信號對其進行測量，該理想的階躍信號比被測示波器信號快很多。

在使用 DPO/DSA73304D 的情況下，使用這種方法確定 9 ps 的上升時間。但是，信號速度可以被測量的意思是什么呢？根據正確的經驗法則，信號上升時間與示波器上升時間的比值為 2x 或  >18 ps。事實證明，對于當今最快的 FPGA 設計中使用的28 Gb / s的串行解串器（SerDes）而言，這是指定的上升時間。

接下來，讓我們看看另一個關鍵性能因素——示波器的實時采樣率。因為更快的采樣率帶來更多的波形細節，所以這一因素非常重要。另一方面，對最快的信號而言，采樣率不足可能會導致欠采樣。此 DPO/DSA73304D 提供一流領先的采樣率性能。利用交錯技術提供采樣率性能，此種交錯技術使用 8 路采樣/保持方法，將雜散高頻的影響降至最低。參見以下數據，可得出被成功和失敗執行的交錯技術的差異：

成功的交錯，頻率雜散較少 失敗的交錯，頻率雜散且有噪聲

奈奎斯特定理（Nyquist theorem）指出，采樣系統應對輸入信號的最高頻率采樣 2 次以上。雖然這是最低起始點，但是在任何情況下，采樣率越高，結果越準確。通過使用 2.5 倍較高采樣率，此輸入頻率或更多輸入頻率可提供被關注信號上的更多采樣點，且避免混疊。對于極高速信號表征而言，這是特別重要的。

下圖顯示了較高的采樣率值。**跟蹤線（C1）在 50 GS / s 上，而白色跟蹤線（R1）在 100 GS / s 上。過采樣原因包括：

· 為確保信號中已知和未知的高頻部分被捕獲，且沒有混疊

· 為實現卓越的定時分辨率（特別是快速瞬態信號或邊緣上的定時分辨率）

· 作為一種減少測量中噪音的手段。采樣過密會減少量化噪聲，產生的此類量化噪聲是示波器中 A 向 D 轉換的一部分

在此帶寬前端，示波器必須有足夠的帶寬來捕捉高頻部分，以便準確地顯示信號的轉換。  然而，當銷售商為帶寬需求進行善意提示，推薦 5 次諧波時，事情在不斷發生變化。邊沿速率（上升/下降時間）的變化并沒有與數據速率的變化同步。這意味著，所需的最大帶寬受到上升時間的影響更大。例如，目前第三代規格的上升時間在 30ps 的范圍內。隨著速率的不斷提高，這似乎并沒有很大變化，這表明，相對于數據速率的信號諧波含量正在下降。

詳細了解精確度和強大捕獲能力

新型 DPO/DSA73304D 平臺兼備業界領先的實時示波器信號完整性和計時精度，使用戶能夠更準確和更有把握地完成他們的設計。它可以幫助他們：

· 利用業界最精準的捕獲系統，發現感興趣的重要信號，此類捕獲系統的特征是采用了在示波器和探頭中使用的可靠鍺化硅技術。

· 使用市場上最佳綜合觸發系統，捕獲高速信號評估所需的精確的信號事件。

· 利用高采樣率搜尋記錄，以確定關鍵事件/錯誤，用于系統驗證。

· 利用 30 + GHz 示波器中最高信號與嗓音的比值，快速分析關鍵測量結

果。它能夠提供高靈敏度、低噪聲的測量結果，這樣的結果為高速光纖的

準確定性及能源和串行數據測量的執行提供依據。

尖端軟件與 DPO/DSA70000 系列平臺上用戶界面工具相互結合，為復雜測量方案（包括調試/分析）提供了最短的快速響應時間。

DPO/DSA73304D 通過結合高帶寬、高采樣率和快速上升時間，可為當今最高的信號完整性測量要求而特別進行量身定做。

關于泰克最新的33GHz高精度示波器DPO/ DSA70000D系列的更多信息，可參考《實時示波器挑戰高精度極致，泰克33GHz