圖二、AFX-100B型的連接案例

三、射頻芯片測試夾具的校準
射頻芯片測試夾具的校準模式有SOLT校準、TRL校準、去嵌入以及多線校準方案。
根據測量要求，一般我們推薦使用SOLT校準和TRL校準相結合，在應用頻段較窄，封裝形式單一的情況下可考慮使用去嵌入法，對精度要求到計量級甚至更高時可使用結合國外最新技術的多線校準方案。

  圖三、AFX100A型功能版夾具及校準件

四、使用射頻芯片測試夾具的測試方法
測試主要分以下步驟：
1、系統連接
如下圖所示，把測量夾具與儀表、附件、待測件連接成測量系統。

圖四、 線路連接示意圖

2、儀表設置
設定頻率范圍
啟動網絡分析儀，設定適當的頻率范圍，并且將網絡儀的中頻帶寬重新設定到1KHz.
選取儀表校準模式
校準模式選擇TRL校準。如果是PNA網絡分析儀可以創建TRL套件模型:

圖五、校準件設置界面

創建TRL校準套件
如果選用的網絡分析儀無法創建TRL校準套件模型，以下以8753ES為例，則可以選擇現有的TRL校準件箱進行修改。具體操作為：在校準菜單選擇CALKIT-SELETCALKIT，選擇TRL3.5mm校準件，TRL OPTIONS:標準阻抗為 LINE Z0；反射標準為 THRU STANDARD。進入MODIFY修改校準件數據：

TRLOPTIONS: 標準阻抗為 LINE Z0；反射標準為 THRU STANDARD
OPEN:輸入校準件的邊緣電容C0、C1、C2、C3 。延時同直通標準件，阻抗50Ω，設定合適的頻率范圍。

SHORT:延時同直通校準件，阻抗50Ω，設定合適的頻率范圍。  
LOAD:FIX LOAD 50Ω
THRU/LINE:  延時跟據本型號校準件上標定，阻抗50Ω,設定合適的頻率范圍。
設置完成選擇TRL*/LRMX2-PORT進入校準界面。

3）校準
如果使用PNA網絡分析儀，創建TRL模型后可按向導校準。以下是一個步驟的例子。

圖六、TRL校準界面

TRL校準向導
如果使用8753ES網分，校準操作如下：
放入校準件THRU選擇THEU校準選項；
放入校準件SHORT選擇雙端口的兩個SHORT校準選項；
放入校準件LINE選擇LINE校準選項，選BOTH（雙端口同時校準）鍵，頻段分段選2-7line；
隔離選項選取忽略。

按下DONE鍵，儀表通過選取的誤差模型計算校準，計算完成后選取FORMAT更改顯示模式為SWR，讀出THRU或者LINE校準件的駐波讀數，判定校準是否準確。一般來說讀數在1.00X~1.02X之間波動。如數值過大需重新校準。如果需要測量相位則需測量THRU校準件S21的相位和SHORT校準件S11的相位，兩個值應相差180度。下圖是一種型號產品校準后的圖形。

圖七、AFX200校準后數據

3、加電測試
校準完成，放入核心滑塊，固定好元器件，通過BIAS TEE 加上直流電壓，根據放大管特性可通過調節柵極電壓調節漏極電流。注意先加漏極電壓避免元件燒毀。

跟據測量需要按MARKER鍵選取測量點測量所關心的S參數,FORMAT格式可選極坐標或SMITH圓圖，改變MARKER位置（測試頻率），得到S11、S21、S12、S22在各頻率下的模值和相位。
五、測量數據對比以及仿真設計：

AFX100A型功能版1＃夾具對安捷倫經典管型ATF54143的兩次測量數據以及廠家數據S11、S21在SMITH圓圖和極坐標上的位置。

分析：在不同的環境下，放大器的匹配必須通過直接測量獲得準確參數，廠家所提供的數據是批生產管型的典型參數。測量結果和廠家提供的參數曲線有一定的區別，這正是使用夾具對場效應管進行測量的原因。

使用測量數據的對放大器進行仿真曲線

使用廠家數據對同一放大器仿真曲線